书目详细信息
： 半导体测量和仪器
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 15119.2034:CNY1.15 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 310000 |
| 题名责任者项： | 半导体测量和仪器/.(美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著 |
| 出版发行项： | 上海:,上海科学技术出版社:,1980 |
| 载体形态项： | 322页:;+20cm |
| 一般附注： | 书名原文:Semiconductor measurements and instrumentation |
| 并列题名： | Semiconductor measurements and instrumentation eng |
| 题名主题： | 半导体材料 测试 |
| 题名主题： | 半导体器件 测试 |
| 中图分类： | TN307 |
| 个人名称等同： | 鲁尼安 W.R. 编著 |
| 个人名称等同： | Runyan W.R. 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20240325 |
| 电子图书： | http://doi.nlc.cn/nlcdoi/108.ndlc.2.1100009031010001/T1F24.0180006851 |