ISBN/价格: | 13031.1663:CNY1.10 |
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作品语种: | chi rus |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 结构的折光测定法/.(苏)巴查诺夫,С.С.著 |
出版发行项: | 北京:,科学出版社:,1962 |
载体形态项: | 206页:;+图表:;+21cm |
一般附注: | 译自:Структурная рефрактометрия |
并列题名: | Структурная рефрактометрия rus |
题名主题: | 光学分析法 |
中图分类: | O657.3 |
个人名称等同: | 巴查诺夫 С.С. 著 |
个人名称等同: | Бацанов С.С. 著 |
个人名称次要: | 戴安邦 译 |
记录来源: | CN 人天书店 20240319 |